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原子力臺(tái)階儀
PARK FX40
全自動(dòng)更換探針
雙攝像頭 自動(dòng)識(shí)別掃碼
自動(dòng)激光校準(zhǔn) 全過程自動(dòng)化操作
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PARK XE7
所獨(dú)有的True Non-Contact?模式
開源的設(shè)計(jì) 允許您整合其他附件
簡(jiǎn)潔的圖形用戶界面和自動(dòng)化工具
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PARK NX10
獨(dú)有的True Non-Contact?模式 可編程自動(dòng)化測(cè)量
Park消除串?dāng)_技術(shù) 亞納米可靠性
掃描離子電導(dǎo)顯微鏡模塊 豐富應(yīng)用領(lǐng)域
性價(jià)比高 經(jīng)濟(jì)首選
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PARK NX12
電化學(xué)測(cè)試的絕佳平臺(tái)
原子力顯微鏡(AFM)有納米級(jí)分辨率成像以及電、磁、熱和機(jī)器性能測(cè)量的能力。
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Tencor? P-7
全自動(dòng) 更高精度 更高效率
全電動(dòng)150mmXY級(jí)、Z級(jí),360° θ階段
垂直范圍1.2mm
頂部模式識(shí)別視圖或側(cè)視圖測(cè)量可視化
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Tencor? D-300
粗糙度 臺(tái)階高精度測(cè)量的經(jīng)濟(jì)首選
手動(dòng)140mm平臺(tái)
垂直范圍1mm
用于測(cè)量可視化的側(cè)視圖光學(xué)系統(tǒng)
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Tencor? D-600
粗糙度 臺(tái)階高精度測(cè)量的高性價(jià)比
XY自動(dòng)平臺(tái) 200mm平臺(tái)
垂直范圍1.2mm
用于測(cè)量可視化的側(cè)視圖光學(xué)系統(tǒng)
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